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超聲波掃描顯微鏡SAM 600

產(chǎn)品類別:超聲波掃描顯微鏡C-SAM

產(chǎn)品型號:S600

產(chǎn)品描述:

超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測,能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會(huì)對樣品造成損傷,不會(huì)影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。

服務(wù)熱線:400-630-6556

  • 產(chǎn)品介紹
  • 產(chǎn)品參數(shù)
  • X-ray成像

產(chǎn)品特點(diǎn):

1、具備A(點(diǎn)掃描)、B(縱向掃描)、C(橫向掃描)、透射掃描(需配置透射掃描單元及接收探頭選項(xiàng))、多層掃描、Tray-托盤掃描,厚度測量等系列掃描模式。

2、具備定量測分析功能,以圖像方式直觀顯示被測件內(nèi)部缺陷的位置、形狀和大小,并進(jìn)行缺陷的尺寸和面積統(tǒng)計(jì),自動(dòng)計(jì)算缺陷占所測量面積的百分比;具備缺陷尺寸標(biāo)識;厚度與測距等功能。

3、具備圖像著色功能,可根據(jù)相位翻轉(zhuǎn)自動(dòng)著色;可根據(jù)灰度等級手動(dòng)著色;可根據(jù)厚度變化,自動(dòng)著色;

4、適用于單個(gè)器件的快速掃描分析,也可批量放置樣品同步進(jìn)行缺陷識別,快速篩選出不合格品。

5、可兼容1~230MHz的超聲探頭。

6、檢測軟件自主研發(fā),中英文界面,可根據(jù)客戶需求對功能進(jìn)行持續(xù)升級。

行業(yè)應(yīng)用:

鋰電池、塑封IC、光電器件、微波功率器件、MEMS器件、倒裝芯片、堆疊Stacked Die、MCM多芯片模塊、金剛石復(fù)合片、電器焊接件、陶瓷材料等。

全國服務(wù)熱線

400-630-6556

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